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發(fā)布時(shí)間：2012/5/8
點(diǎn)擊次數(shù)：1283
低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀 型號:DP-MCP-T370
四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動(dòng)按鈕，確認(rèn)自動(dòng)測量能，可自動(dòng)保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準(zhǔn)模式。檢查探頭校準(zhǔn)片（另售），以確認(rèn)Roresuta AX測試值的準(zhǔn)確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲(chǔ)器。
 規(guī)格 | |
| 測量方法 | 四端四探針法 施加恒定電流的方法 |
| 測量范圍 | 10 -2?10 6 Ω |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認(rèn)書 |
| 選項(xiàng) |
 探頭選項(xiàng) | ||
| 類型 | 適用被測試樣品 | 型號 |
| ESP | 對于異類樣本 | MCP - TP08P |
| PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
| QPP | 對于小樣本 | MCP - TPQPP |
| TFP | 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
 校準(zhǔn)塊 | 型號：MCP - TRF1 |
當(dāng)前位置：
