大米外觀檢測儀型號:DP-SCE參數

大米外觀檢測儀/稻米分析儀米質判定儀 型號:DP-SCE
1、用途：用于各種類大米（米、糙米、糯米等）各項外觀標的自動檢測，可行多參數、批量化的自動分析。
2、系統組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。
3、主要性能標：
★配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透掃幅面30 cm×20 cm，zui小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自動次性測量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整米數量、整米率、大米透明度、黃粒米、雜質量、異品種粒、不善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的碾米度、裂紋率，以及糙米胚芽率。
自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.05mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現性誤差≤±0.02；整米率、碎米率標測量誤差≤±1.0%、重現性誤差≤±0.25%）。可大批量自動分析處理與輸出結果。與標GB/T1350稻谷、GB/T17891稻谷或GB1354大米、農業新標準【大米】NY/T2334-2013等標準相對應，檢測各項標的重量比和粒數比。各分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖。
★具有自動學習與識別特性，可自動分割粘連的大米、種粒，可做自動分類分析。
★具有樣本條碼、電子天平RS232數據軟件接口。可兼測的種粒直徑范圍0.3-20mm（zui厚15 mm），自動測量度≥99%，交互修正后準確率達。
注：本標書中打★款項響應，否則為重大偏離
選配電腦推薦：聯想體機（雙核CPU /2G內存/512M立顯卡/500G硬盤/ 20”彩顯/DVD-RM /無線網卡）。